粉末颗粒的尺寸和形状并非独立的量。常规测量技术无法对这些相互关联的参数进行三维(3D)测量。本文介绍了一种基于X射线计算机断层扫描的3D测量/分析技术,该技术可同时测量颗粒的尺寸和形状,并根据这两个参数对粉末颗粒进行分类。
方法文章
粉末颗粒的尺寸和形状并非独立的量。常规测量技术无法对这些相互关联的参数进行三维(3D)测量。本文介绍了一种基于X射线计算机断层扫描的3D测量/分析技术,该技术可同时测量颗粒的尺寸和形状,并根据这两个参数对粉末颗粒进行分类。
测量粉末中颗粒的粒径分布是科学和工业领域常见的工作,而测量颗粒的形貌分布则相对少见。然而,粉末颗粒的形状与尺寸并非相互独立的参数。目前所有已知的尺寸/形貌测量技术,要么假设颗粒为球形,要么仅能进行二维形貌测量。本文介绍的基于X射线计算机断层扫描(XCT)的方法能够在三维空间中同时测量颗粒的尺寸与形状,且无需任何形状假设。从颗粒的三维图像出发,该方法可依据形貌对颗粒进行数学分类,例如区分由多个小颗粒熔结而成的团聚颗粒与非球形的单颗粒。当然,用单一数值来表征颗粒形状的做法 "大小" 或 "形状" 原则上无法定义随机非球形颗粒的单一尺寸,因此可通过多个相互关联的参数来估算颗粒的尺寸和形状,而这些参数均可基于完整的三维表征结果,以平均值和分布形式呈现。本文描述了所需的实验步骤、数学分析方法和计算机分析过程,并以金属粉末为例进行了说明。该技术的适用范围限于可通过XCT成像、且每个颗粒体积至少包含约1000个体素的颗粒。
测量粉末中颗粒的粒径分布是科学和工业中的常见操作1,2。 测量颗粒的形貌分布相对较少见,但颗粒的尺寸和形貌,连同其组成材料本身,共同决定了这些颗粒的性能,无论其是单独存在还是嵌入某种基体材料中3,4,5,6,7。需要关注其颗粒尺寸与形貌的材料包括硅酸盐水泥、砂、砾石8,9,10,11,12,13,14,15,16,17,18,19,20,21,22,23、用于粉末冶金和增材制造的金属粉末24,25,26、月球土壤27,28,29、粉碎的汽车轮胎30、破碎的废玻璃31、干细胞32以及碳纳米管和石墨烯33,34,35,36,37。然而,粉末颗粒的形貌与尺寸并非相互独立的量26。例如,假设有一个几何形状规则的颗粒,其"尺寸"被定义为d。如果不说明该颗粒是球体、立方体,还是一根长度为d的细棒,则实际上无法明确该尺寸如何应用于该颗粒。只有说明该颗粒为球体、立方体或棒状时,才真正指明了其形貌;缺乏这一额外信息时,尺寸信息本身便毫无意义。
对于这三个例子——球体、立方体或细长杆状颗粒,其粒径可用单个数值来表示。然而,即使该杆状颗粒具有圆形横截面,也仍需测量该横截面的直径,因此实际上需要两个尺寸参数才能完整描述细长杆状颗粒的尺寸。对于椭球体或矩形盒状颗粒又如何呢?对于每一种情况,都需要三个数值来确定其尺寸,而且仍需指明颗粒形状是椭球体还是矩形盒,这三个尺寸参数才有意义。对于任意形状的颗粒,则需要无限多个尺寸参数(例如穿过颗粒的弦长)才能完全表征该颗粒的"尺寸",但若缺乏对这些弦相对于颗粒质心所处角度的了解,即缺乏"形状表征",这些参数仍然毫无意义。
测量粉末中颗粒粒径分布的方法有多种,这些方法基于不同的物理原理1,2。然而,通常未被充分认识的是,要获得颗粒粒径,必须使用有关颗粒形状的信息,无论该信息是假设的还是实测的。目前的技术可分为两类:(I)在假设三维(3D)形状的前提下测量颗粒的三维粒径;(II)利用二维(2D)图像分析技术,同时测量颗粒的尺寸和形状,但仅限于二维投影。对于球形颗粒,所有二维投影均为圆形,其直径与原始颗粒相同,因此在测量不确定度范围内,第一类和第二类方法对理想球形颗粒的测量结果一致。对于非球形颗粒,其二维投影与原始颗粒的对应关系显著减弱。如果颗粒内部存在未穿透表面的孔隙,则这些孔隙在任何三维或二维测量技术中均无法被检测到。第一类方法包括激光衍射、电感应区(ESV)38、筛分分析和沉降法;第二类方法涵盖透射电子显微镜、扫描电子显微镜、原子力显微镜,以及基于光学技术的动态和静态图像分析。这两类方法均无法准确测量非球形颗粒的三维尺寸和形状。
自2002年左右以来39,一种新的颗粒分析方法被开发出来40,41,42,43,44,45,该方法可对三维颗粒进行三维成像,然后利用多种数学分析方法对每个颗粒进行表征和分类。每个单独的颗粒都会保存一幅三维图像,该图像可与同时保存的每个颗粒的几何和数学信息进行比较。这些数学信息可用于在任意位置和方向以任意类型的三维模型重新生成该颗粒46,47,48,49,或生成具有相同统计特性的虚拟颗粒50,51。该颗粒分析方法基于对分散在环氧树脂或其他类似介质中的颗粒进行XCT扫描。XCT扫描结果由专用软件处理,软件采用燃烧算法52,53,54,55,56识别颗粒,然后通过球谐函数级数拟合或体素计数方法,生成并存储颗粒的形状和尺寸、颗粒的三维图像,并在第二步中生成每个颗粒的几何信息。每个被分析的颗粒都有一个唯一的字母数字标签,用于追踪该颗粒、其相关信息,并将其与对应的三维图像关联。在分析过程中,颗粒内部的孔隙也会被分析,该颗粒的总孔隙率将被记录,因为XCT重建可提供样品完整的三维视图。
在三维颗粒分析与分类中,已发现多个几何尺寸/形状参数中的三个尤为有用:长度(L)、宽度(W)和厚度(T)。L 定义为颗粒表面一点到另一表面点之间的最长距离;W 的定义方式与 L 类似,但附加约束条件为沿 W 方向的单位矢量必须与沿 L 方向的单位矢量垂直;T 的定义同样类似于 L,但附加约束条件为沿 T 方向的单位矢量必须同时垂直于沿 L 和沿 W 的单位矢量12。这三个参数定义了恰好包络该颗粒的最小矩形或边界框,而这三个参数之间的比值则提供了关于每个颗粒形状的有价值但近似的描述信息。这些参数中的任意一个均可用于构建分布图。有可能的是,"粒径"通过筛分分析测得的结果与 W 具有良好的相关性57,而激光衍射法测得的"粒径"则与 L、W 和 T 的某种混合值相关31。
最后,通过目视检查100至200个颗粒的测试样品的三维图像,确定长径比(L/T)的截断值,该截断值可用于区分近似单一颗粒的近球形(SnS)颗粒与非球形(NS)颗粒,后者可能是多个颗粒熔接在一起的聚集体,或明显为单个但形状异常的颗粒。
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
注意:以下方案适用于金属粉末颗粒,其尺寸根据体积当量球体直径(VESD,即与颗粒体积相同的球体的直径)近似在 10 µm 至 100 µm 之间。假设该金属的密度单位为 g/cm3。在样品制备过程中应佩戴手套,并采取眼部防护措施。在开始本方案前,务必通读方案 1 中的所有步骤,因为部分设备需在实验开始前准备就绪。
1. 环氧树脂粉末混合物的制备

2. XCT 仪器
注意:这些步骤假设用户已熟悉所选用的XCT仪器。
3. 将属于每个视场的切片组装成3D ASCII微结构
注意:美国国家标准与技术研究院(NIST)使用的 C 程序名为 tiff2array.c,通常与 TIFF 文件一起使用,但也可处理其他 8 位格式。该程序可直接编译,生成的可执行文件名为 tiff2array。此程序从下往上读取每幅图像,将其转换为 ASCII 格式(0 到 255 的灰度值),然后将这些数据追加到主文件的末尾。
4. 为所有SH和非SH颗粒生成几何信息
5. 选择 SH 和非 SH 颗粒的子集,以直观确定 SnS 和 NS 的长/短(L/T)截断值
注意:SH 颗粒通常包括单个球形颗粒、单个非球形(椭球形或部分破碎或呈任意形状)颗粒、双颗粒以及多个(两个以上颗粒连接在一起)颗粒。构成多颗粒的单个颗粒可以是球形或非球形。非SH颗粒通常含有少量单球形颗粒,但主要特征是具有大量贯通至表面的大孔隙,其余部分则主要为双颗粒和多颗粒26。该分类通过观察两类颗粒的随机样本(其 L/T 值范围为 1 至 2)来确定。此类视觉检查是实现 SnS 与 NS 分类的重要步骤。
6. 从3D颗粒生成2D投影数据
注意:目前唯一能够测量颗粒形状的商用颗粒分析仪仅通过二维投影实现。XCT 数据可被分析以生成任意二维投影,从而产生可与这些商用仪器结果进行定量比对的数据。二维投影由 SH 和非 SH 颗粒共同生成,并未尝试将其分类为二维 SnS 和 NS 类别,因为目前尚不清楚如何为二维投影定义这些类别。
7. 处理三维和二维颗粒几何数据以生成多种图表
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
美国材料与试验协会(ASTM)已启动一项针对用于激光粉末床熔融的金属粉末的能力验证计划(AMPM,增材制造粉末冶金),参与该计划的实验室需执行一系列标准金属粉末测试,ASTM 将这些测试结果的统计分布汇编成报告反馈给参与者61。金属粉末样品每年向所有参与者分发两次。美国国家标准与技术研究院(NIST)的工作人员担任该计划的部分技术顾问,因此获得了类似的金属粉末样品,并使用上述技术对其中一轮样品(AMPM 1810)进行了分析,但该技术目前尚未成为 ASTM 标准。
共分析了 16,970 个颗粒,其中 14,580 个为 SH 颗粒,2,390 个为非 SH 颗粒(见表 1)。对九个视野(FOV)进行内部扫描时采用 1 µm 的体素尺寸,每个视野包含约一千幅 1000 像素 × 1000 像素的图像。所有输入和输出数据文件,以及分析和生成该数据所需的所有程序,均已包含在本论文的补充部分中,网址为 https://doi.org/10.18434/M32265。
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
基于XCT的金属颗粒三维尺寸和形状表征方法具有更多潜在应用,但也存在一些局限性。以下将首先讨论这些局限性。
使用快固化的环氧树脂,以便在环氧树脂固化过程中,其黏度足够高,从而防止粉末在重力作用下发生沉降,或至少缩短可能发生沉降的时间,避免初始均匀分散状态被破坏。仍可能发生一定程度的沉降,特别是对于较大(> 100 µm)粒径的颗粒。如果粉末的体积分数未控制在约10%或更低,或分散过程未成功实施,则在XCT图像中可能出现一些看似牢固连接但实际上仅是接触的颗粒。若颗粒在重力作用下发生过度沉降,也可能出现同样情况。一旦发生上述任一情况,重建的颗粒XCT图像将清晰地显示出来,此时可重新制备样品。在上述代表性结果中,可能存在少数多颗粒在XCT图像中实际上仅是人为接触的情况。然而,针对多种不同金属粉末的三维颗粒图像已进行了大量随机检查,未发现此类现象。
该方法假设颗粒与环氧树脂基体之间存在足够的X射线吸收对比度,从而使分割过程足够简单,可由Otsu法等自动化方法完成58。对于大多数金...
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
作者无任何披露信息。
作者谨此感谢美国国家标准与技术研究院(NIST)对三维粉末分析的长期支持。
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
| 姓名 | 公司 | 目录编号 | 评论 |
|---|---|---|---|
| 环氧树脂 | Ellsworth Adhesives https://www.ellsworth.com/products/adhesives/epoxy/hardman-doublebubble-extra-fast-set-epoxy-red-package-3.5-g-packet/ | Hardman 货号 # 4001 | 每箱100包 |
访问受限。请登录或开始试用以查看此内容。
申请许可以重复使用本 JoVE 文章的文本或图表
申请许可