15 марта 2017 г.
Представлен протокол для предотвращения окисления металлических подложек при переносе образца из ингибированного кислотного раствора на рентгеновский фотоэлектронный спектрометр.
Общая цель данной экспериментальной процедуры заключается в предотвращении окисления металлических подложек при переносе образцов из ингибированного кислотного раствора в рентгеновский фотоэлектронный спектрометр. Эта процедура позволяет более надежно определить химическую природу интерфейсов вещества ингибитора коррозии в кислотных растворах, что является ключевым компонентом для понимания механизмов и прогнозирования эффективности. Особым преимуществом данного подхода является относительная простота его применения.
Таким образом, данный метод может быть принят другими исследователями, проводящими аналогичные измерения. Протокол относительно прост, однако следует попрактиковаться в манипуляциях с образцами в перчаточном боксе, так как этот этап метода является наиболее трудоемким. Помимо ингибирования коррозии, данный подход следует рассматривать и в других областях, где измерения XPS проводятся на чувствительных к воздуху интерфейсах, сформированных в жидкой среде.
Мы решили сначала попробовать этот подход, так как нас беспокоило, что результаты предыдущей работы были искажены из-за окисления ингибированного интерфейса при контакте с воздухом. Для начала данной процедуры подготовьте подложку из углеродистой стали и раствор соляной кислоты с добавлением CI, как описано в текстовом протоколе. Затем налейте 25 миллилитров подготовленного раствора HCl с CI в небольшой стеклянный стакан.
С помощью кислотостойкого пинцета возьмите образец из углеродистой стали в форме диска, затем погрузите его в раствор HCl и CI. Расположите образец так, чтобы цилиндрические грани находились в вертикальной плоскости. Сначала подключите перчаточный бокс к источнику инертного газа, такого как азот или аргон.
Затем прикрепите небольшой квадрат двусторонней проводящей углеродной ленты к держателю образцов XPS. Поместите в перчаточный бокс через открытый порт все оборудование, необходимое для переноса образца в прибор XPS. После этого поместите в перчаточный бокс стеклянный стакан с погруженным в него субстратом.
Герметично закройте все порты. Затем продуйте перчаточный бокс инертным газом. Оставьте образец погруженным на требуемый период иммерсии.
Следите за значением относительной влажности внутри перчаточного бокса. Когда относительная влажность упадет ниже 8%, вставьте руки в перчатки бокса. Затем наденьте поверх них нитриловые перчатки.
С помощью пинцета извлеките образец из углеродистой стали из раствора. Немедленно просушите образец, обдувая его из пустой промывочной бутыли. Затем накройте стакан с раствором HCL и CI парафиновой пластиковой пленкой.
Закрепите высушенный образец на маленьком квадрате клейкой ленты на держателе образцов XPS. После этого продуйте шлюзовую камеру XPS инертным газом. Откройте фланец шлюзовой камеры, перенесите держатель с образцами в шлюзовую камеру и установите его на фиксирующий штифт для образцов.
Затем закройте фланец. Включите комбинацию турбомолекулярного и роторного насосов для откачки камеры. Когда давление достигнет примерно 5 × 10⁻⁷ мбар, с помощью манипулятора переместите образец в промежуточную камеру вручную.
С помощью клавиатуры установите образец под нужным углом эмиссии фотоэлектронов. Затем откройте программное обеспечение для сбора данных XPS. Перейдите в окно ручного управления прибором.
Введите 10 milliamps и 15 killivolts в качестве значений параметров эмиссии анода и высокого напряжения (HT) анода соответственно. Затем нажмите кнопку On в разделе Xray gun, чтобы включить монохроматический рентгеновский источник K alpha алюминия. После этого нажмите кнопку On в разделе Neutralizer, чтобы включить нейтрализатор заряда.
В разделе Analyzer в выпадающих меню mode и lens выберите режим измерения спектра Hybrid. Затем введите необходимые параметры в разделе управления сканированием acquisition scan control. С помощью клавиатуры оптимизируйте положение образца, чтобы максимизировать сигнал от выбранного основного уровня.
Затем получите данные XPS, как описано в текстовом протоколе. В данном исследовании используется альтернативный подход к введению образцов в прибор XPS со сверхвысоким вакуумом, чтобы минимизировать окисление после погружения в кислый раствор, содержащий ингибитор коррозии. Данные XPS для полированного образца демонстрируют три выраженные особенности: сигнал железа 2p обусловлен углеродистой сталью, из которой состоит образец.
Сигнал O 1s обусловлен как поверхностной оксидной пленкой, так и адсорбатами, в то время как сигнал C 1s вызван присутствием адвентивного углерода. Погружение в любой из ингибированных одномолярных растворов HCl приводит к значительным изменениям соответствующего обзорного спектра. Появляется сигнал N вследствие поверхностной адсорбции ингибитора, при этом сигнал O практически исчезает.
Спектральные профили с более высоким разрешением для кислорода 1s и железа 2p указывают на то, что на поверхности полированного образца произошло окисление, приведшее к образованию оксидов и гидроксидов железа. Эти соединения отсутствуют в погруженных образцах, что свидетельствует о том, что на поверхности практически не осталось оксидов или гидроксидов. Влияние атмосферы лаборатории на ингибированный интерфейс определяется путем переноса образца в частично продуваемый перчаточный бокс.
Этот образец, подвергшийся воздействию более высокой концентрации кислорода, имеет признаки поверхностного окисления. Таким образом, поверхностное окисление сводится к минимуму только в том случае, если перенос образца осуществляется внутри тщательно продутого перчаточного бокса. После просмотра этого видео у вас должно появиться четкое представление о том, как избежать окисления интерфейсов ингибитора коррозии перед проведением измерений XPS.
Эта процедура относительно проста, и после того, как она будет освоена, этап переноса образца может занять менее 30 минут при правильном выполнении. Однако при проведении процедуры крайне важно не касаться поверхности, предназначенной для анализа методом XPS, в любой момент во время погружения или переноса образца. Наконец, не забывайте, что работа с кислотами может быть опасной, поэтому следует соблюдать соответствующие меры предосторожности.
В данной статье представлен протокол, разработанный для предотвращения окисления металлических подложек при их переносе из ингибированного кислотного раствора в рентгеновский фотоэлектронный спектрометр (РФЭС). Данный метод повышает достоверность определения химической природы интерфейсов ингибиторов коррозии в кислотных растворах.
Точная характеристика интерфейсов «ингибитор коррозии/металл» имеет решающее значение для прогнозирования свойств материалов в кислых средах, что является ключевым аспектом при разработке составов и испытаниях на стабильность. Предотвращая окисление после погружения во время переноса образцов, данный метод гарантирует, что данные XPS отражают истинный химический состав поверхности раздела, обеспечивая надежное понимание механизмов взаимодействия. Эта возможность способствует снижению рисков при выборе ингибиторов на ранних этапах за счет повышения достоверности данных о поверхностном взаимодействии.
Данный метод применим в рамках рабочих процессов раннего поиска, где понимание молекулярных взаимодействий на границах раздела материалов служит основой для отбора перспективных соединений и оценки стабильности рецептур.